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QUICK REVIEW

[论文解读] Ab initio shallow acceptor levels in gallium nitride

Vincenzo Fiorentini, Fabio Bernardini|ArXiv.org|Oct 7, 1996
GaN-based semiconductor devices and materials被引用 4
一句话总结

本从头算研究利用密度泛函理论预测纤锌矿氮化镓中的浅受主能级,揭示铍在镓位(Be_Ga)为浅受主,其热电离能约为0.06 eV;而镁在镓位(Mg_Ga)和锌在镓位(Zn_Ga)为中深受主(分别为0.23 eV和0.33 eV),钙在镓位(Ca_Ga)、镉在镓位(Cd_Ga)以及碳在氮位(C_N)为深受主(约0.65 eV)。研究证实,取代式杂质在能量上优于间隙位或反位缺陷。

ABSTRACT

Impurity levels and formation energies of acceptors in wurtzite GaN are predicted ab initio. Be_Ga is found to be the shallow (thermal ionization energy $\sim$ 0.06 eV); $Mg_{Ga}$ and $Zn_{Ga}$ are mid-deep acceptors (0.23 eV and 0.33 eV respectively); $Ca_{Ga}$ and $Cd_{Ga}$ are deep acceptors ($\sim$0.65 eV); $Si_N$ is a midgap trap with high formation energy; finally, contrary to recent claims, $C_N$ is a deep acceptor (0.65 eV). Interstitials and heteroantisites are energetically not competitive with substitutional incorporation.

研究动机与目标

  • 利用第一性原理计算预测纤锌矿GaN中受主杂质的能级与形成能。
  • 解决关于碳在GaN中受主能级的实验与理论结果之间的矛盾争议。
  • 确定GaN中取代式与间隙位或反位杂质的相对稳定性。
  • 识别第II族元素(Be、Mg、Zn、Ca、Cd)在GaN中形成浅受主或深受主的情况。
  • 为GaN基光电器件的p型掺杂提供可靠的理论基准。

提出的方法

  • 采用密度泛函理论(DFT)结合广义梯度近似(GGA)计算GaN中各类杂质的电子结构。
  • 使用超原胞模型模拟孤立杂质在纤锌矿GaN晶格中取代位点(如Be_Ga、Mg_Ga、C_N)的结构。
  • 计算受主的形成能随化学势和费米能级的变化,以评估热力学稳定性。
  • 从价带顶到受主能级计算电离能,以判断受主的浅或深特性。
  • 比较取代式、间隙位及反位构型的总能量,评估其相对稳定性。
  • 在必要时执行自旋极化计算,以考虑潜在的磁性状态。

实验结果

研究问题

  • RQ1当Be、Mg、Zn、Ca、Cd和C取代纤锌矿GaN中的Ga时,其电离能是多少?
  • RQ2这些杂质中哪些形成适合p型掺杂的浅受主?
  • RQ3取代式杂质的形成能与间隙位或反位杂质相比如何?
  • RQ4碳(C_N)在GaN中是浅受主还是深受主,与近期声称的浅行为相反?
  • RQ5GaN中不同缺陷构型的相对热力学稳定性如何?

主要发现

  • 镓位的铍(Be_Ga)为浅受主,其热电离能约为0.06 eV。
  • 镓位的镁(Mg_Ga)为中深受主,电离能为0.23 eV。
  • 镓位的锌(Zn_Ga)为中深受主,电离能为0.33 eV。
  • 镓位的钙(Ca_Ga)和镉(Cd_Ga)为深受主,电离能约为0.65 eV。
  • 氮位的碳(C_N)为深受主,电离能为0.65 eV,与近期声称的浅行为相矛盾。
  • 在GaN中,取代式杂质在能量上比间隙位或异质反位缺陷更稳定。

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本解读由 AI 生成,并经人工编辑审核。