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QUICK REVIEW

[论文解读] Extreme ultraviolet-excited time-resolved luminescence spectroscopy using an ultrafast table-top high-harmonic generation source

Maarten Leo Simon van der Geest, Najmeh Sadegh|arXiv (Cornell University)|Nov 1, 2021
Laser-Matter Interactions and Applications参考文献 64被引用 4
一句话总结

本文提出了一套基于高次谐波产生(HHG)的台式极紫外(XUV)光束线,实现了亚皮秒至纳秒时间分辨率的时-频分辨XUV激发荧光光谱(XEOL)分析。该装置利用导电条纹相机探测固体材料在XUV激发下的荧光,揭示了XUV激发体系的更快衰减动力学,特别是在掺有荧光团的锆基光刻胶中,相比可见光/紫外光激发,表明能量通过辐射跃迁而非光化学开关过程损失。

ABSTRACT

We present a table-top extreme ultraviolet (XUV) beamline for measuring time- and frequency-resolved XUV-excited optical luminescence (XEOL) with additional femtosecond-resolution XUV transient absorption spectroscopy functionality. XUV pulses are generated via high-harmonic generation using a near-infrared pulse in a noble gas medium and focused to excite luminescence from a solid sample. The luminescence is collimated and guided into a streak camera where its spectral components are temporally resolved with picosecond temporal resolution. We time-resolve XUV-excited luminescence and compare the results to luminescence decays excited at longer wavelengths for three different materials: (i) sodium salicylate, an often used XUV scintillator; (ii) fluorescent labeling molecule 4-carbazole benzoic (CB) acid; and (iii) a zirconium metal oxo-cluster labeled with CB, which is a photoresist candidate for extreme-ultraviolet lithography. Our results establish time-resolved XEOL as a new technique to measure transient XUV-driven phenomena in solid-state samples and identify decay mechanisms of molecules following XUV and soft-x-ray excitation.

研究动机与目标

  • 开发一种紧凑的台式XUV光源,用于固态材料的时-分辨荧光研究。
  • 通过荧光检测而非透射测量方法,解决HHG光源中XUV光子通量低的挑战。
  • 以高时间与光谱分辨率研究闪烁体、荧光团和光刻材料中的XUV激发动力学。
  • 比较XUV激发与长波长激发下的荧光衰减动力学,以识别能量损失路径。

提出的方法

  • 利用近红外激光聚焦于稀有气体介质中,通过高次谐波产生(HHG)生成XUV脉冲。
  • 将XUV光束聚焦于固体样品上以激发荧光,荧光信号被收集并导入条纹相机,实现时间-频谱分辨检测。
  • 条纹相机在70 ps至500 µs的时间窗口内提供皮秒级时间分辨率,最短时间范围内的分辨率低于1 ps。
  • 通过可调谐的近红外至深紫外激光脉冲实现泵浦-探测功能,用于并行的瞬态吸收光谱分析(XTAS)。
  • 系统支持在XEOL与XTAS模式间快速切换,实现对动力学过程的全面分析。
  • 荧光衰减曲线通过双指数函数拟合,以提取寿命和相对振幅。

实验结果

研究问题

  • RQ1XUV激发材料的荧光衰减动力学与长波长光激发的相比如何?
  • RQ2在极紫外(EUV)光刻胶中,吸收的XUV能量有多少比例以荧光形式重新发射,又有多少用于光化学开关过程?
  • RQ3尽管转换效率较低,台式HHG光源是否能提供足够的XUV光子通量以实现时-分辨荧光光谱分析?
  • RQ4XUV激发下荧光团和闪烁体的主要衰减机制是什么?与紫外/可见光激发相比有何不同?
  • RQ5荧光团中芳香基团的存在在多大程度上淬灭XUV激发的荧光?

主要发现

  • 成功测得苯甲酸钠(NaSal)和4-咔唑苯甲酸(CB)的XUV激发荧光,信噪比足够高,可进行时-分辨分析。
  • 游离CB的XUV激发荧光衰减呈现双指数衰减,寿命分别为τ1 = 6.26 ± 1.44 ns 和 τ2 = 0.77 ± 0.14 ns,显著快于DUV激发下的衰减(τ1 = 7.08 ± 0.27 ns,τ2 = 1.69 ± 0.28 ns)。
  • Zr6O4(OH)4(OMc)12(ZrOMc)-CB光刻胶的XUV激发荧光衰减速度高于未取代的ZrOMc,表明能量通过辐射跃迁而非光化学开关过程损失。
  • XUV激发体系中更快的衰减表明,部分吸收能量以光子形式重新发射,这可能是光刻胶溶解度开关所需剂量增加两倍的原因。
  • CB中芳香基团的存在可能增强了非辐射或辐射弛豫路径,淬灭激发态,降低光化学量子产率。
  • 系统成功实现了XEOL与XTAS的同步测量,实现了对飞秒至纳秒时间尺度载流子动力学的全面观测。

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本解读由 AI 生成,并经人工编辑审核。