[论文解读] Octave-spanning microcomb generation in 4H-silicon-carbide-on-insulator photonics platform
该论文首次在4H-碳化硅膜绝缘(4H-SiCOI)光子平台上实现了跨越八度音程的微梳。通过优化纳米制造工艺,在36-µm半径微环谐振器中实现超过一百万的本征Q值,并通过基模横向电场(TE₀₀)模式下波导宽度调节实现色散工程,作者实现了1100–2400 nm波段的宽带微梳,片上输出功率接近120 mW,标志着迈向芯片级f-2f自参考的关键一步。
Silicon carbide has recently emerged as a promising photonics material due to its unique properties, including possessing strong second- and third-order nonlinear coefficients and hosting various color centers that can be utilized for a wealth of quantum applications. Here, we report the design and demonstration of octave-spanning microcombs in a 4H-silicon-carbide-on-insulator platform for the first time. Such broadband operation is enabled by optimized nanofabrication achieving >1 million intrinsic quality factors in a 36-$μ$m-radius microring resonator, and careful dispersion engineering by investigating the dispersion properties of different mode families. For example, for the fundamental transverse-electric mode whose dispersion can be tailored by simply varying the microring waveguide width, we realized a microcomb spectrum covering the wavelength range from 1100 nm to 2400 nm with an on-chip power near 120 mW. While the observed comb state is verified to be chaotic and not soliton, attaining such a large bandwidth is a crucial step towards realizing $f$-2$f$ self-referencing. In addition, we have also observed coherent soliton-crystal state for the fundamental transverse-magnetic mode, which exhibits stronger dispersion than the fundamental transverse-electric mode and hence a narrower bandwidth.
研究动机与目标
- 在4H-碳化硅膜绝缘(4H-SiCOI)光子平台上实现八度跨越微梳生成,用于集成频率计量。
- 通过波导宽度调节实现色散工程,克服以往基于碳化硅微梳带宽受限的挑战。
- 通过优化纳米制造,在紧凑的碳化硅微环谐振器中实现本征Q值超过一百万。
- 通过生成跨越一个八度以上的宽带微梳,实现芯片级f-2f自参考。
- 通过对比实验微梳谱与LLE模拟,评估碳化硅材料的克尔非线性。
提出的方法
- 采用500 nm厚碳化硅层与100 nm埋氧层的4H-SiCOI平台,利用直接键合与抛光技术制造。
- 通过将微环波导宽度从1.6至1.9 µm变化,调节基模TE₀₀的色散,实现宽波段异常群速度色散(GVD)。
- 通过优化纳米制造实现本征Q值超过一百万,包括80–85°侧壁角,最大限度降低散射损耗。
- 采用光栅耦合器进行输入耦合,通过抛光芯片端面的端面耦合实现宽带输出收集,以解析1100–2400 nm全谱。
- 使用两台光谱分析仪(OSA)分别覆盖600–1700 nm与1200–2400 nm,测量全微梳带宽。
- 采用Lugiato-Lefever方程(LLE)进行数值模拟,参数为γ ≈ 2.1 W⁻¹m⁻¹与Q_intrinsic = 125万,模拟微梳动力学并推断材料非线性。
实验结果
研究问题
- RQ1能否通过色散工程与高Q纳米制造,在4H-SiCOI平台上实现八度跨越微梳?
- RQ2通过调节波导宽度,4H-SiCOI微环在TE₀₀模式下可实现的最大微梳带宽是多少?
- RQ34H-SiCOI微环的本征Q值与当前最先进平台相比如何?本工作实现超过一百万Q值的关键因素是什么?
- RQ4所观测到的微梳态是否支持f-2f自参考?该平台中的微梳状态是混沌还是孤子态?
- RQ5根据实验微梳谱与LLE模拟,所用4H-SiC材料的有效克尔非线性系数是多少?
主要发现
- 首次在任何基于碳化硅的纳米光子平台中实现八度跨越微梳,使用36-µm半径微环谐振器,覆盖1100–2400 nm波段。
- 通过基模TE₀₀模式与1.8–1.9 µm波导宽度实现微梳谱,谱宽超过150 THz。
- 生成宽带微梳需约120 mW的片上泵浦功率,输出通过与透镜光纤的端面耦合收集。
- 拍频测量证实微梳状态为调制不稳定性(MI)微梳,而非相干孤子,因其具有混沌动力学特征。
- 有效克尔非线性系数估算为n₂ = (3.0 ± 1.0) × 10⁻¹⁹ m²/W,对应γ ≈ 2.1 W⁻¹m⁻¹,低于此前报道的其他碳化硅样品值。
- 在TM₀₀模式中观测到相干孤子晶格态,但因色散更强,带宽较窄。
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本解读由 AI 生成,并经人工编辑审核。