Yoon‐Uk Heo
포항공과대학교 기계공학과 · 공학
이 교수의 연구실은 전자현미경 기반의 나노구조 분석을 핵심으로 하며, 특히 전자 에너지 손실 분광법(EELS)과 수축빔 회절(CBED)을 활용한 박막 두께 측정 기법을 개발하고 응용하고 있습니다. 고해상도 전자현미경을 통해 철계 합금의 미세구조와 물성 간의 상관관계를 규명하고 있으며, 특히 고강도 철강 및 고성능 첨단 소재의 구조-성능 관계 분석에 초점을 맞추고 있습니다. 연구는 나노스케일에서의 물질 거동 이해를 바탕으로 한 소재 설계에 기여하고자 합니다.
표시된 성과는 수집된 데이터 기준으로 산출되며, 일부 차이가 있을 수 있습니다.
Two thickness measurement methods using an electron energy loss spectroscopy (EELS) and 10a convergent beam electron diffraction (CBED) were compared in an Fe-18Mn-0.7C alloy. The thin foil specimen was firstly tilted to satisfy 10a two-beam condition. Low loss spectra of EELS and CBED patterns were acquired in scanning transmission electron microscopy (STEM) and TEM-CBED modes under the two-beam condition. The log-ratio method was used for measuring the thin foil thickness. Kossel-Möllenstedt (
