[논문 리뷰] Demonstrating a long-coherence dual-rail erasure qubit using tunable transmons
이 논문은 두 resonantly-커플된 트랜스몬으로 형성된 초전도 이중-레일 큐비트가 T1 오류를 검출 가능한 소거로 변환하고, 이중-레일 부분공간에서 밀리초 규모의 코히런스와 높은 소거-검출 신뢰도를 달성함을 보여준다.
Quantum error correction with erasure qubits promises significant advantages over standard error correction due to favorable thresholds for erasure errors. To realize this advantage in practice requires a qubit for which nearly all errors are such erasure errors, and the ability to check for erasure errors without dephasing the qubit. We demonstrate that a "dual-rail qubit" consisting of a pair of resonantly coupled transmons can form a highly coherent erasure qubit, where transmon $T_1$ errors are converted into erasure errors and residual dephasing is strongly suppressed, leading to millisecond-scale coherence within the qubit subspace. We show that single-qubit gates are limited primarily by erasure errors, with erasure probability $p_ ext{erasure} = 2.19(2) imes 10^{-3}$ per gate while the residual errors are $\sim 40$ times lower. We further demonstrate mid-circuit detection of erasure errors while introducing $< 0.1\%$ dephasing error per check. Finally, we show that the suppression of transmon noise allows this dual-rail qubit to preserve high coherence over a broad tunable operating range, offering an improved capacity to avoid frequency collisions. This work establishes transmon-based dual-rail qubits as an attractive building block for hardware-efficient quantum error correction.
연구 동기 및 목표
- 소거 큐비트가 완화된 오류 수정 임계값으로 가는 경로임을 동기부여한다.
- 이중-레일 큐비트가 트랜스мон T1 감쇠를 검출 가능한 소거 오류로 변환함을 보인다.
- 소거 오류가 남는 서브스페이스 오류를 능가하는 동안 이중-레일 부분공간에서 밀리초 규모의 코히런스를 시연한다.
- dephasing이 낮은 상태에서 중간 회로 소거 검출을 시연한다.
- 광범위한 조정 가능 범위를 따라 이중-레일 동작의 강건성을 보여준다.
제안 방법
- 두 개의 공진으로 결합된 두 트랜스몬을 사용하여 대칭 및 비대칭 상태 |0L>와 |1L>에 이중-레일 큐비트를 인코딩한다. 이는 |01>와 |10>에서 파생된다.
- 결합 강도 g로 공진에서 Q1과 Q2를 연결하여 ED R ≈ sqrt((2g)^2 + δ^2)인 에너지 간격을 얻는다.
- 주파수 2g/2π = 180 MHz에서 Q2의 플럭스 변조를 통해 단일 큐비트 게이트를 수행한다.
- |0L>,|1L>를 |01>,|10>로 매핑하기 위해 트랜스몬을 서서히 분리시켜 준 뒤 공동으로 읽어낸다.
- 이중-레일이 |00>에 있을 때와 논리 서브스페이스에 있을 때의 분산 이동에 의존하는 보조 큐비트 Q3를 사용하여 중간 회로 소거 검사를 구현한다.
- 최종 읽기와 중간 회로 소거 검사로 누설에 대한 코히런스 측정을 포스트 셀렉트하여 서브스페이스 다이내믹스를 분리한다.
실험 결과
연구 질문
- RQ1이중-레일 큐비트가 트랜스몬 T1 오류를 검출 가능한 소거로 변환하여 큰 소거 바이어스를 얻을 수 있는가?
- RQ2소거 오류가 남은 서브스페이스 오류를 지배하는 동안 이중-레일 부분공간의 코히런스 특성은 어떠한가?
- RQ3중간 회로 소거 검출이 낮은 디피징과 높은 신뢰도로 수행될 수 있는가?
- RQ4스위트 스폿에서 멀어진 넓은 작동 포인트에서 이중-레일 큐비트가 강건한가?
- RQ5소거 검사로 무작위 벤치마킹을 수행했을 때 게이트 신뢰도와 소거/오류 비율은 어떠한가?
주요 결과
- 게이트당 소거 오류 확률은 p_erasure = 2.19(2) × 10^-3으로 X90 게이트에서 나타난다.
- 잔여(비소거) 오류 확률은 5.06(6) × 10^-5로, 소거 잡음 바이어스는 43(1)이다.
- 중간 회로 소거 검사는 각 검사에서 0.1% 미만의 디피징 오류를 달성하며 소거를 검출한다.
- 듀얼-레일 T1은 906(15) μs로 외삽되고, 듀얼-레일 부분공간에서의 T2(CPM G)는 0.543–1.25 ms로 N(CPMG)에 따라 달라진다.
- 소거 수명 Teras 약 30 μs로, 쉬는 오류에 대해 T2/Teras ≥ 20의 소거 노이즈 바이어스를 가능하게 한다.
- 듀얼-레일 코히런스는 4.96 GHz에서 TLS 유도된 움푹함에 근접하지 않는 한 350 MHz 범위의 작동 지점에서 수 백 μs의 범위를 유지한다.
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