배석주 교수
Suk Joo Bae
한양대학교 산공학과 · 공학
연구실 소개
배석주 교수의 연구실은 신뢰성 공학과 수리통계학을 기반으로 한 고도화된 신뢰성 평가 모델을 개발하고 있습니다. 주로 전자소자 및 디스플레이 기기의 수명 주기 내 내구성과 고장 메커니즘을 비모수적·비선형 모형으로 분석하며, 특히 플라즈마 디스플레이 패널(PDP)과 진공형 플루오레스센트 디스플레이(VFD)의 비선형 열화 경로를 랜덤 계수와 변화점 모델을 통해 정밀하게 기술합니다. 또한 웨이퍼 맵의 결함 공간 분포를 분석하는 데서부터 시작해 반도체 공정의 수율 예측 모델링까지 응용 범위를 넓히고 있습니다. 이와 같은 연구들은 실생활 제품의 신뢰성 향상과 결함 예측에 기여하고 있습니다.
연구 현황
연구 성과 추이
표시된 성과는 수집된 데이터 기준으로 산출되며, 일부 차이가 있을 수 있습니다.
주요 논문
15AbstractAs an alternative to traditional life testing, degradation tests can be effective in assessing product reliability when measurements of degradation leading to failure can be observed. This article presents a degradation model for highly reliable light displays, such as plasma display panels and vacuum fluorescent displays (VFDs). Standard degradation models fail to capture the burn-in characteristics of VFDs, when emitted light actually increases up to a certain point in time before it d
In testing display devices such as Plasma Display Panels (PDPs), the observed degradation in luminosity can exhibit an unstable period due to incomplete burn-in during the manufacturing process. We introduce a log-linear model with random coefficients and a change point to describe the nonlinear degradation path. The change point represents the time at which the burn-in period has finished and the degradation in the luminosity changes to a slower and more stable rate. The inference procedure for
Malaria is one of the major public health issues globally. Malaria infection spreads through mosquito bites from infected female Anopheles mosquitoes. This study aims to conduct a systematic review and meta-analysis on malaria prevalence in Pakistan from 2006 to 2021. We searched PubMed, Science Direct, EMBASE, EMCare, and Google Scholar to acquire data on the prevalence of malaria infections. We performed a meta-analysis with a random-effects model to obtain the pooled prevalence of malaria, Pl
As an alternative to traditional life testing, degradation tests can be effective in assessing product reliability when measurements of degradation leading to failure can be observed. This article proposes a new model to describe the nonlinear degradation paths caused by nano-contamination in plasma display panels (PDP): a bi-exponential model with random coefficients. A likelihood ratio test was sequentially executed to select random effects in the nonlinear model. Analysis results indicate tha
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